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Pelcotec線寬标樣CDMS – XY 特征尺寸放大(dà)标樣

Pelcotec™ CDMS-XY 标樣是(shì)一(yī / yì /yí)種用于(yú)掃描電鏡、場發射掃描電鏡、離子(zǐ)束雕刻、CD-SEM、激光掃描顯微鏡和(hé / huò)原子(zǐ)力顯微鏡快速、精确校準的(de)便捷工具。該标樣提供了(le/liǎo) X 和(hé / huò) Y 兩個(gè)坐标軸的(de)比例尺線,可在(zài)不(bù)旋轉樣品台的(de)情況下輕松進行二維校準。

分類: ,    品牌: Ted Pella

描述

Pelcotec™ CDMS-XY 标樣是(shì)一(yī / yì /yí)種用于(yú)掃描電鏡、場發射掃描電鏡、離子(zǐ)束雕刻、CD-SEM、激光掃描顯微鏡和(hé / huò)原子(zǐ)力顯微鏡快速、精确校準的(de)便捷工具。該标樣提供了(le/liǎo) X 和(hé / huò) Y 兩個(gè)坐标軸的(de)比例尺線,可在(zài)不(bù)旋轉樣品台的(de)情況下輕松進行二維校準。

Pelcotec™ CDMS-XY 标樣使用最新的(de)半導體和(hé / huò)微電子(zǐ)制造技術制成,具有卓越的(de)線緣質量,可提供廣泛的(de)測量範圍。

該标樣有兩種特征尺寸範圍可選,分别是(shì) Pelcotec™ CDMS-XY-1T 和(hé / huò) Pelcotec™ CDMS-XY-0.1T ,每個(gè)尺寸範圍都提供可追溯和(hé / huò)認證标樣,總共有四種:

Pelcotec™ CDMS-XY-1T :特征尺寸範圍爲(wéi / wèi) 2.0mm 到(dào) 1um,适用于(yú)放大(dà)倍率在(zài) 10x – 20,000x 之(zhī)間的(de)台式掃描電鏡和(hé / huò)低到(dào)中等放大(dà)應用。

PELCO CDMS-1T AND 1C

産品編号 描述 單位
684-1 Pelcotec™ CDMS-XY-1T ,2mm – 1µm,可追溯,沒有樣品座 個(gè)

Pelcotec™ CDMS-XY-1C :每個(gè)标樣均根據 NIST 标準進行了(le/liǎo)單獨認證,特征尺寸範圍爲(wéi / wèi) 2.0mm 到(dào) 1µm,适用于(yú)放大(dà)倍率在(zài) 10x – 20,000x 之(zhī)間的(de)台式掃描電鏡和(hé / huò)低到(dào)中等放大(dà)應用。

産品編号 描述 單位
689-1 Pelcotec™ CDMS-XY-1C ,2mm – 1µm,已認證,沒有樣品座 個(gè)

Pelcotec™ CDMS-XY-0.1T :特征尺寸範圍爲(wéi / wèi) 2.0mm 到(dào) 100nm,适用于(yú)所有掃描電鏡和(hé / huò)大(dà)多數場發射掃描電鏡應用,放大(dà)倍率可達 10 – 200,000x。

PELCO CDMS-1T AND 1C

産品編号 描述 單位
685-1 Pelcotec™ CDMS-XY-0.1T ,2mm – 100nm,可溯源,沒有樣品座 個(gè)

 

Pelcotec™ CDMS-XY-0.1C :每個(gè)标樣均根據 NIST 标準進行了(le/liǎo)單獨認證,特征尺寸範圍爲(wéi / wèi) 2.0mm 到(dào) 100nm,适用于(yú)所有掃描電鏡和(hé / huò)大(dà)多數場發射掃描電鏡應用,放大(dà)倍率可達 10 – 200,000x。

産品編号 描述 單位
690-01 Pelcotec™ CDMS-XY-0.1C ,2mm – 100nm,已認證,沒有樣品座 個(gè)

該标樣的(de)特征尺寸範圍見下表:

Pelcotec™ CDMS-XY-1T  和(hé / huò) -1C  的(de)特征尺寸爲(wéi / wèi):

2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µm、10µm、5µm、2µm 和(hé / huò) 1µm。

Pelcotec™ CDMS-XY-0.1T  和(hé / huò) 0.1C  的(de)特征尺寸爲(wéi / wèi):

2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µm、10µm、5µm、2µm 和(hé / huò) 1µm、500nm、250nm 和(hé / huò) 100nm。

可選的(de)預先安裝在(zài)樣品座上(shàng)。

 

Pelcotec™ CDMS-XY-1 Pelcotec™ CDMS-XY-0.1
基底尺寸:2.5×2.5mm
基底厚度:525±10μm
唯一(yī / yì /yí)序列識别号
2mm、1mm、0.5mm 的(de)校準方塊
垂直于(yú) X 軸和(hé / huò) Y 軸的(de)刻度線,間距爲(wéi / wèi) 10um、5μm、2μm 和(hé / huò) 1μm
僅限高分辨率版本 – 垂直于(yú) X 和(hé / huò) Y 軸的(de)附加刻度線以(yǐ) 500、250 和(hé / huò) 100 nm 節距标出(chū)
特征材料:50nm Cr (2mm – 5µm)
特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和(hé / huò) 1μm)
特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和(hé / huò) 100nm)
可在(zài)晶圓級追溯到(dào) NIST T 版本 T 版本
CDMS 标樣直接獲得 NIST 标準認證 C版本 C版本
不(bù)含樣品台
可安裝于(yú)SEM樣品台
精度優于(yú)0.3%
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