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Pelcotec掃描電鏡線寬标樣 CDMS 标準特征尺寸放大(dà)标樣

Pelcotec™ CDMS 校準标樣是(shì)一(yī / yì /yí)種獨特的(de)經濟實惠、功能齊全、可追溯的(de)校準标樣,可用于(yú)快速精準的(de)掃描電鏡(SEM)、場發射掃描電鏡(FESEM)、離子(zǐ)束刻蝕(FIB)、CD-SEM、LM和(hé / huò)AFM放大(dà)倍數校準。這(zhè)些标樣采用最新的(de)半導體和(hé / huò)微機電系統(MEMS)制造技術制成,可以(yǐ)覆蓋廣泛的(de)測量範圍。

分類: ,    品牌: Ted Pella

描述

Pelcotec™ CDMS 校準标樣是(shì)一(yī / yì /yí)種獨特的(de)經濟實惠、功能齊全、可追溯的(de)校準标樣,可用于(yú)快速精準的(de)掃描電鏡(SEM)、場發射掃描電鏡(FESEM)、離子(zǐ)束刻蝕(FIB)、CD-SEM、LM和(hé / huò)AFM放大(dà)倍數校準。這(zhè)些标樣采用最新的(de)半導體和(hé / huò)微機電系統(MEMS)制造技術制成,可以(yǐ)覆蓋廣泛的(de)測量範圍。

SDMS-2

Pelcotec™ CDMS 校準标樣有兩種特征尺寸範圍,分别是(shì) Pelcotec™ CDMS-1T 和(hé / huò) Pelcotec™ CDMS-0.1T ,都提供可追溯和(hé / huò)認證标樣,共有4個(gè)種:

Pelcotec™ CDMS-1T : 可追溯,特征尺寸範圍爲(wéi / wèi)2.0毫米到(dào)1微米,放大(dà)倍數範圍爲(wéi / wèi)10倍到(dào)20,000倍,非常适合台式掃描電鏡和(hé / huò)低到(dào)中等放大(dà)應用。

PELCO CDMS-1T AND 1C

産品編号 描述 單位
682-1 Pelcotec™ CDMS-1T ,2mm – 1µm,可追溯,沒有樣品台 個(gè)

Pelcotec™ CDMS-1C : 經過NIST标樣認證的(de)特征尺寸範圍爲(wéi / wèi)2.0毫米到(dào)1微米,放大(dà)倍數範圍爲(wéi / wèi)10倍到(dào)20,000倍,非常适合台式掃描電鏡和(hé / huò)低到(dào)中等放大(dà)應用。

産品編号 描述 單位
686-1 Pelcotec™ CDMS-1C ,2mm – 1µm,經過認證,沒有樣品台 個(gè)

Pelcotec™ CDMS-0.1T : 可追溯,特征尺寸範圍爲(wéi / wèi)2.0毫米到(dào)100納米,放大(dà)倍數範圍高達10倍到(dào)200,000倍,适用于(yú)所有掃描電鏡和(hé / huò)大(dà)多數場發射掃描電鏡應用。

PELCO CDMS Magnification Standard

産品編号 描述 單位
683-01 Pelcotec™ CDMS-0.1T ,2mm – 100nm,可追溯,沒有樣品台 個(gè)

 

Pelcotec™ CDMS-0.1C : 經過NIST标樣認證的(de)特征尺寸範圍爲(wéi / wèi)2.0毫米到(dào)100納米,放大(dà)倍數範圍高達10倍到(dào)200,000倍,适用于(yú)所有掃描電鏡和(hé / huò)大(dà)多數場發射掃描電鏡應用。

産品編号 描述 單位
687-01 Pelcotec™ CDMS-0.1T ,2mm – 100nm,經認證,沒有樣品台 個(gè)

 

Pelcotec™ CDMS  标樣的(de)特征尺寸範圍爲(wéi / wèi)2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µm、5µm、2µm和(hé / huò)1µm(适用于(yú) Pelcotec™ CDMS-1T ISO 和(hé / huò) Pelcotec™ CDMS-1C )。而(ér)Pelcotec™ CDMS-0.1T  和(hé / huò) 0.1C  的(de)特征尺寸範圍爲(wéi / wèi)2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µm、5µm、2µm、1µm、500nm、250nm和(hé / huò)100nm。

Pelcotec™ CDMS  标樣采用超平整的(de)矽襯底制成,采用精密的(de)50nm鉻沉積技術制造特征尺寸小于(yú)5µm的(de)部分,而(ér)采用50nm金/20nm鉻的(de)組合制造2µm到(dào)100nm的(de)特征尺寸。鉻和(hé / huò)金/鉻在(zài)矽基底上(shàng)提供了(le/liǎo)卓越的(de)SE和(hé / huò)BSE成像模式對比度,比刻蝕矽标樣更易于(yú)确定特征。由于(yú)矽襯底、鉻和(hé / huò)鉻/金特征都具有導電性,因此該校準标樣不(bù)存在(zài)充電問題。由于(yú)其堅固的(de)結構,CDMS标樣可使用等離子(zǐ)體清洗器進行清潔。

較小的(de)特征尺寸被嵌套在(zài)一(yī / yì /yí)起,以(yǐ)便于(yú)導航和(hé / huò)快速校準。特征的(de)精度爲(wéi / wèi)0.3%或更高。标樣的(de)實際尺寸爲(wéi / wèi)2.5 x 2.5mm,厚度爲(wéi / wèi)525µm ±10µm,在(zài)矽表面上(shàng)沒有塗層。每個(gè)Pelcotec™ CDMS 校準标樣都有一(yī / yì /yí)個(gè)獨特的(de)識别編号。

Pelcotec™ CDMS 校準标樣可供選擇不(bù)安裝或安裝在(zài)SEM樣品台A-R上(shàng)。對于(yú)AFM應用,Pelcotec™ CDMS 安裝在(zài)12mm的(de)AFM圓片上(shàng),而(ér)對于(yú)LM應用,則安裝在(zài)25 x 75mm的(de)載玻片上(shàng)。也(yě)可以(yǐ)制備在(zài)自定義的(de)支架上(shàng)。

可選的(de)樣品座。

Pelcotec™ CDMS-1 Pelcotec™ CDMS-0.1
基底:矽
基底尺寸:2.5×2.5mm
基底厚度:525±10μm
唯一(yī / yì /yí)序列識别号
2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的(de)校準方塊
垂直于(yú) X 軸的(de)刻度線,間距爲(wéi / wèi) 10μm、5μm、2μm 和(hé / huò) 1μm
僅高分辨率版本 – 垂直于(yú) X 軸的(de)附加刻度線以(yǐ) 500、250 和(hé / huò) 100 nm 節距标出(chū)
特征材料:50nm Cr (2mm – 5µm)
特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和(hé / huò) 1μm)
特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和(hé / huò) 100nm)
可在(zài)晶圓級追溯到(dào) NIST T 版本 T 版本
CDMS 标樣直接獲得 NIST 标準認證 C版本 C版本
不(bù)含樣品台
可安裝在(zài) SEM樣品台上(shàng)
精度優于(yú)0.3%

 

 

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